非破壊試験電子機器検査ソリューション

電子機器向けの高性能プレミアムナノフォーカスおよびマイクロフォーカス検査

Phoenix Microme|x Neo および Nanome|x Neo

Phoenix Microme|x Neo および Nanome|x Neo は、高解像度の 2D X 線技術、PlanarCT と 3D コンピューター断層撮影 (CT) スキャンを1つのシステムで提供し、半導体、PCB、リチウムイオン電池などの電子部品の非破壊試験 (NDT) を可能にします。これは工業、自動車、航空、家庭用電化製品などの業界を対象にしています。革新的なエンジニアリングと超高位置決め精度を組み合わせたPhoenix Microme|x Neoおよび Nanome|x Neoは、生産性を向上させるためのプロセスおよび品質管理、製品の安全性と品質を向上させる故障分析、イノベーションが生まれる研究開発などでの産業用X線電子機器検査に最適です。

最新のPhoenix Nanome|xおよびMicrome|x Neo製品リリースのすべての新機能をご確認ください。

「当社は以前はGE Inspection Technologiesという名称でしたが、現在の名称はWaygate Technologiesであり、品質、安全性、生産性の確保において125年以上の経験を持つ非破壊試験ソリューションのグローバルリーダーです。」