Uso de la técnica de retrodispersión de Compton para END
¿Qué es la técnica de retrodispersión de Compton?
La técnica de retrodispersión de Compton, (véase el apartado 2.6), se benefició de la introducción de la tecnología informática en los equipos de END, al igual que la mayoría de los demás métodos que se describen en este capítulo.
Se trata de una técnica END aceptada actualmente para plásticos y metales ligeros [2]. El escáner se compone de un tubo de rayos X y de un detector formado por una serie de elementos, tal como se ilustra en la figura 4-17. Un colimador reduce el haz de rayos a 0,5 mm de diámetro, de modo que no pueda irradiar los detectores de forma directa.
Cuando un fotón y un electrón colisionan en el material, la radiación primaria se dispersa como una radiación algo más débil en todas las direcciones y, por tanto, en parte también de vuelta del material al el escáner. Un detector capta esta radiación secundaria a través de un diafragma, véase la figura 4-17.
El detector se compone de 20 o más elementos detectores marcados A', B', C' etc. cada uno de los cuales mide la cantidad de radiación retrodispersada procedente desde una profundidad determinada (A, B, C) del objeto, como se muestra en la figura 4-17. Cada elemento sensor está, por así decirlo, enfocado a una determinada profundidad. El escáner cilíndrico mide solo 7 x 7 cm y escanea el objeto en una cuadrícula. Al vincular el sistema de escaneado con un procesador de datos se forma una imagen Compton completa del objeto y de sus posibles defectos. Este método tiene la ventaja de que se puede acceder al objeto desde un único lado. Se usa con frecuencia en construcciones con estructura en panal de abeja y materiales compuestos, y tiene una profundidad de penetración de unos 50 mm. El método sigue siendo bastante lento ya que para escanear una superficie de 50 cm2 se tardan aproximadamente 5 minutos. Sin embargo, una ventaja añadida es que se puede conocer la posición de profundidad de los defectos de forma inmediata a causa del «casi enfoque» de cada elemento individual del detector.