Nueva versión de Phoenix Nanome|x y microme|x Neo 

En este artículo:

• Nueva generación de rayos X y TC para la inspección electrónica: Waygate Technologies lanzó los sistemas actualizados Phoenix Nanomex y Micromex Neo, estableciendo un nuevo estándar en rayos X de microenfoque y nanoenfoque y tomografía computarizada (TC) para el aseguramiento de la calidad de la electrónica.
• Imágenes mejoradas con detectores de ultra alta resolución: Los sistemas ofrecen opciones de detectores con tamaños de píxel tan pequeños como 85 µm, lo que permite una inspección precisa de componentes pequeños como semiconductores y placas de circuito impreso.
• Tubo de rayos X inteligente para la protección de componentes: Un tubo de rayos X rediseñado con control de dosis minimiza la exposición a la radiación de los componentes electrónicos sensibles, preservando la integridad de los componentes durante la inspección.
• Flujo de trabajo optimizado con automatización e integración MES: Funciones como los informes de inspección automáticos, la importación de archivos CAD y la conectividad con el sistema de ejecución de fabricación (MES) mejoran la eficacia y la trazabilidad.
• Ideal para I+D, control de calidad y análisis de fallos: Los sistemas admiten una amplia gama de aplicaciones en toda la fabricación electrónica, desde la optimización de procesos hasta la detección de defectos y el desarrollo de productos

A principios de este año, Waygate Technologies lanzó una nueva versión de nuestros productos Phoenix Nanome|x y Microme|x Neo, presentando el último estándar de la industria para rayos X y TC de microenfoque y nanoenfoque, que incluye la capacidad de inspección Planar CT, con un enfoque en las aplicaciones de inspección de electrónica. La nueva versión proporciona: 

• Más opciones de detectores para adaptarse mejor a múltiples aplicaciones
• Un tubo de rayos X optimizado para proteger los componentes sensibles a los rayos X
• Funciones de software mejoradas para una mayor eficiencia y facilidad de uso

Aplicaciones: el producto actualizado ofrece una amplia gama de aplicaciones en dos sectores verticales clave de la industria que se muestran arriba.

Características y beneficios clave:

• Opción de detector de resolución ultraalta con tamaño de píxel de 100/85 μm para componentes y semiconductores de tamaño pequeño
• El tubo de rayos X inteligente y la medición de dosis protegen los componentes (inspeccionados) de la radiación de rayos X prolongada
• Se generan informes de inspección automáticos para mejorar la eficiencia y la facilidad de uso
• La interfaz del sistema de ejecución de fabricación (MES) y la opción de importación de archivos CAD aumentan la interconectividad del sistema 

Waygate Technologies

Como líderes a nivel global en ensayos no destructivos (END), somos nosotros quienes nos encargamos de preocuparnos de los detalles.  Garantizamos seguridad, calidad y productividad para los sectores principales en todo el mundo.